具体分析下珠宝成分分析仪的技术原理

　　珠宝成分分析仪是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。
 

　　珠宝成分分析仪的技术原理：
 

　　待测样品的一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。这些核外电子围绕着原子核按不同轨道运转，它们按不同的能量分布在不同的电子壳层，分布在同一壳层的电子具有相同的能量。
 

　　当具有高能量的入射(一次)X射线与原子发生碰撞时，会打破(待测样品的)原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层(如:K层)的电子更容易被激发而从原子中逐放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位，这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不用电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量，这一个过程就是我们所说的X射线荧光(XRF)。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量--每种元素的发射强度与样品中的元素含量成正比，通过预先设置好的校正曲线计算出来，可显示其含量。